Internationale Fachmesse f�r Qualit�tssicherung: Confovis zeigt Branchenl�sungen f�r Automotive/Aerospace und Halbleiterindustrie auf der Control

Jena, 16. April 2014 - Der Spezialist f�r 3D-Oberfl�chenanalyse Confovis (www.confovis.de) pr�sentiert seine Messsystemen f�r die schnelle Qualit�tsinspektion auf der internationalen Fachmesse f�r Qualit�tssicherung Control (www.control-messe.de) in Stuttgart. Neben der neuen Portal-L�sung ConfoGate CGM-100 zur normgerechten Rauheitsmessung und dem Drallportal ConfoGate CGDR-100 f�r die Automobil- und Zulieferungsindustrie wird auch das 3D-Messsystem CL300 zur automatisierten Wafer-Analyse vorgestellt. Die Control findet vom 6. bis 9. Mai 2014 in Stuttgart statt. Confovis stellt an Stand 7322 in Halle 7 aus. Erweitertes Bildfeld
Das neue Portalsystem ConfoGate CGM-100 ist f�r die schnelle optische Qualit�tsinspektion im Bereich Automotive, Aerospace sowie Werkzeug- und Maschinenbau ausgelegt. Dem Anwender steht damit erstmals ein Messportal mit einer Bildfeldgr��e von 2,5 x 2,0 mm zur Verf�gung, welches mit zwei Bildstapeln eine pr�zise Mikrostrukturanalyse von bis zu 4,0 x 2,0 mm in 20 Sekunden erstellt. Markt�bliche Systeme ben�tigten f�r die von der DIN 4287 und 4288 geforderte Strecke von zum Beispiel 4 mm ca. 15 Einzelbilder - bei einer Bildfeldgr��e von nur 0,45 x 0,33 mm. Mit dem CGM-100 entf�llt das aufwendige Aufnehmen und Zusammenf�gen von Einzelaufnahmen (Stitchen). Messergebnisse liegen in deutlich k�rzerer Zeit vor. Die Fehleranalyse erfolgt schneller und der Ausschuss wird reduziert.

Rundum Qualit�t
3D-Oberfl�chenanalyse rotationssymmetrischer Bauteile wie etwa Antriebs-, Kurbel- oder Nockenwellen lassen sich mit dem Drallportal ConfoGate CGDR-100 ber�hrungslos und normgerecht �berpr�fen. Alle Drall-Kenngr��en wie G�ngigkeit, Dralltiefe und -winkel sowie Periodenl�nge und F�rderquerschnitt k�nnen nach Daimler-Norm MBN 31007-07 ermittelt und mit dem entsprechenden Software-Modul ausgewertet werden. Statt Punkt-f�r-Punkt zu messen, scannt das confovis Drallportal eine komplette Fl�che. Dadurch wird die Messzeit um bis zu 80 Prozent reduziert. Mit dem ConfoGate CGDR-100 steht der Automobil- und Zulieferindustrie ein leistungsstarkes Messsystem zur Qualit�tssicherung zur Verf�gung.

Automatisierte Wafer-Analyse
F�r die Halbleiterindustrie bietet confovis das 3D-Messsystem CL300 zur automatischen Inspektion von Wafern mit einer Gr��e von bis zu 300 mm. Es eignet sich zur Charakterisierung von Oberfl�chentexturen und zur Bestimmung von "Critical Dimensions". Als Konfokal-Mikroskop mit 5- bis 100-facher Vergr��erung und einer H�henaufl�sung ab 3 nm bietet das confovis CL300 sowohl klassische Mikroskopie-Funktionen als auch erweiterte 3D-Oberfl�chenanalysen. Dank automatischer Messalgorithmen sind die Reproduzierbarkeit und die Unabh�ngigkeit der Messergebnisse vom Benutzer gegeben. Statt einer Stichproben-Pr�fung k�nnen nun alle Chips auf dem Wafer in k�rzester Zeit vermessen werden. Das CL300 wird bereits beim Fraunhofer IZM erfolgreich eingesetzt.

In Halle 7 an Stand 7322 der Control erhalten Messebesucher Einblicke in die Anwendungsfelder der neuesten confovis Produkte. Gespr�chstermine k�nnen bereits vorab per Mail an baechstaedt@confovis.com verabredet werden.

Bildmaterial finden Sie unter: http://www.confovis.de/de/unternehmen/aktuelles/presse.html